Texas Instruments LMG341xR150 GaN-FET

Der LMG341xR150 GaN FET mit integriertem Treiber und Schutzfunktionen von Texas Instruments bietet Designern neue Wege zur Erreichung der Leistungsdichte und des Wirkungsgrads in Leistungselektronik-Systemen. Der LMG341xR150 GaN FET zeichnet sich durch eine extrem niedrige Eingangs- und Ausgangskapazität, eine Sperrverzögerung von Null zur Reduzierung von Schaltverlusten um bis zu 80 % und ein niedriges Schalterknoten-Überschwingen zur Reduzierung von EMI aus. Die Funktionen ermöglichen dichte und effiziente Topologien wie den Totem-Pole-PFC.

Der LMG341xR150 von Texas Instruments bietet eine intelligente Alternative zu herkömmlichen Kaskaden-GaN- und eigenständigen GaN-FETs durch die Integration eines einzigartigen Satzes an Funktionen zur Vereinfachung des Designs, Maximierung der Zuverlässigkeit und Optimierung der Leistungsfähigkeit von Netzteilen.

Der integrierte Gate-Antrieb ermöglicht eine Schaltung von 100 V/ns mit einem VDS-Überschwingen von beinahe Null. Eine Strombegrenzungsreaktion von weniger als 100 ns schützt gegen unbeabsichtigte Durchzündungsereignisse. Die Übertemperatur-Abschaltung verhindert ein thermisches Durchlaufen und Systemschnittstellensignale bieten eine Selbstüberwachungsfunktion.

Merkmale

  • Ermöglicht Leistungsumwandlungs-Designs mit hoher Dichte
    • Hervorragende Systemleistung über Kaskaden- oder eigenständige GaN-FETs
    • QFN-Gehäuse von 8 mm x 8 mm mit niedriger Induktanz für ein einfaches Design und Layout
    • Anpassbare Ansteuerungskraft für Schaltleistung und EMI-Steuerung
    • Digitales Fehlerzustands-Ausgangssignal
    • Nur +12 V der ungeregelten Versorgung wird benötigt
  • Integrierter Gate-Treiber
    • Keine gemeinsame Quelleninduktivität
    • Laufzeitverzögerungen von 20 ns für ein Hochfrequenz-Design
    • Getrimmte Gate-Vorspannung zur Kompensierung von verschiedenen Schwellenwerten sorgt für eine zuverlässige Schaltung
    • Einstellbare Anstiegsrate: 25 V/ns bis 100 V/ns
  • Durch hart schaltende Einsatzprofile mit erhöhter Zuverlässigkeit innerhalb von Applikationen für den GaN-Prozess von TI qualifiziert
  • Robuster Schutz
    • Erfordert keine externen Schutzkomponenten
    • Überstromschutz mit Reaktion von < 100 ns
    • Anstiegsratenfestigkeit von mehr als 150 V/ns
    • Transiente Überspannungsfestigkeit
    • Übertemperaturschutz
    • Unterspannungssperre (UVLO) auf allen Versorgungsschienen
  • Bauteiloptionen:
    • LMG3410R150: Verriegelter Überstromschutz
    • LMG3411R150: Zyklus-für-Zyklus-Überstromschutz

Applikationen

  • Industrie-AC/DC
  • Notebook-PC-Netzadapter
  • LED-Beschilderung
  • Servoantrieb-Leistungsstufe

Funktionsdiagramm

Blockdiagramm - Texas Instruments LMG341xR150 GaN-FET
Veröffentlichungsdatum: 2020-03-10 | Aktualisiert: 2024-05-30