Texas Instruments LMG341xR050 GaN-Leistungsstufe

Die Texas Instruments LMG341xR050 GaN-Leistungsstufe mit integriertem Treiber und Schutzfunktionen bietet Designern neue Wege zur Erreichung der Leistungsdichte und des Wirkungsgrads in Leistungselektronik-Systemen. Die inhärenten Vorteile des LMG341x gegenüber Silizium-MOSFETs umfassen eine extrem niedrige Eingangs- und Ausgangskapazität, eine Sperrverzögerung von Null zur Reduzierung von Schaltverlusten um bis zu 80 % und ein niedriges Schalterknoten-Überschwingen zur Reduzierung von EMI. Diese Vorteile ermöglichen dichte und effiziente Topologien, wie z. B. Totem-Pole-PFCs.

Die LMG341xR050 bietet eine intelligente Alternative zu herkömmlichen Kaskaden-GaN- und eigenständigen GaN-FETs durch die Integration eines einzigartigen Satzes an Funktionen zur Vereinfachung des Designs, Maximierung der Zuverlässigkeit und Optimierung der Leistungsfähigkeit von Netzteilen. Der integrierte Gate-Drive ermöglicht eine Schaltung von 100 V/ns mit einem Vds -Überschwingen von beinahe Null. Diese Funktion bietet weniger als 100 ns Strombegrenzungsreaktion und schützt vor unbeabsichtigten Shoot-Through-Ereignissen, die Übertemperaturabschaltung verhindert ein thermisches Durchgehen und die SIGNALE der Systemschnittstelle bieten Selbstüberwachungsfunktionen.

Merkmale

  • Durch hart schaltende, beschleunigte Einsatzprofile innerhalb von Applikationen für die GaN-FET-Zuverlässigkeit von TI qualifiziert
  • Ermöglicht Leistungsumwandlungs-Designs mit hoher Dichte
    • Hervorragende Systemleistung über Kaskaden- oder eigenständige GaN-FETs
    • QFN-Gehäuse von 8 mm x 8 mm mit niedriger Induktivität für ein einfaches Design und Layout
    • Anpassbare Ansteuerungskraft für Schaltleistung und EMI-Steuerung
    • Digitales Fehlerzustands-Ausgangssignal
    • Eine unregulierte Versorgung von lediglich +12 V ist erforderlich
  • Integrierter Gate-Treiber
    • Keine gemeinsame Quelleninduktivität
    • 20 ns Ausbreitungsverzögerung für MHz-Betrieb
    • Getrimmte Gate-Vorspannung zur Kompensierung von verschiedenen Schwellenwerten sorgt für eine zuverlässige Schaltung
    • 25Einstellbare Anstiegsrate: 25 V/ns bis 100 V/ns
  • Robuster Schutz
    • Erfordert keine externen Schutzkomponenten
    • Überstromschutz mit einer Reaktion von weniger als 100 ns
    • Anstiegsratenfestigkeit von mehr als 150 V/ns
    • Transiente Überspannungsfestigkeit
    • Übertemperaturschutz
    • Unterspannungssperre (UVLO) auf allen Versorgungsschienen
  • Robuster Schutz
    • LMG3410R050: Verriegelter Überstromschutz
    • LMG3411R050: Zyklus-für-Zyklus-Überstromschutz

Applikationen

  • Stromversorgungen mit hoher Dichte für Industrie und Verbraucher
  • Mehrstufige Wandler
  • Solarwechselrichter
  • Industrie-Motorantriebe
  • Unterbrechungsfreie Stromversorgungen
  • Hochspannungs-Akkuladegeräte

Funktionales Blockdiagramm

Blockdiagramm - Texas Instruments LMG341xR050 GaN-Leistungsstufe
Veröffentlichungsdatum: 2020-01-08 | Aktualisiert: 2024-05-01