NXP Semiconductors FRDMGD3160DSBHB Halbbrücken-Evaluierungsboard

Das NXP Semiconductors FRDMGD3160DSBHB Halbbrücken-Evaluierungsboard ist ein Halbbrücken-Evaluierungskit, das mit zwei GD3160 Einkanal-Gate-Drive-Bauteilen bestückt ist. Das Kit enthält die Freedom KL25Z Mikrocontroller-Hardware für die Verbindung mit einem PC. Das Kit wird mit der FlexGUI-Software für die Kommunikation mit den seriellen Peripherieschnittstellen-Registern (SPI) auf den GD3160 Gate-Drive-Bauteilen installiert. Die Bauteile können entweder in Verkettungen oder in eigenständigen Konfigurationen verwendet werden.

Merkmale

Kann mit dem VE-Trac™ Dual-DSB-IGBT-Modul für Halbbrücken-Evaluierungen verbunden werden
Niedrige negative VEE-Gate-Antriebsebene (-7,5 V DC)
Hohe geregelte VCCREG-Gate-Antriebsebene (+15 V DC)
Steckbrücken-konfigurierbar zur Deaktivierung des Totzeit-Fehlerschutzes bei Kurzschlusstests
Einfacher Zugang zu Strom-, Erdungs- und Signal-Testpunkten

Einfache Installation und Verwendung von FlexGUI für die Verbindung via SPI über den PC; die Software umfasst eine doppelte Impuls- und Kurzschluss-Testfunktion
DC-Link-Bus-Spannungswächter auf Low-Side-Treiber über AMUXIN und AOUT
Verbindung mit negativem Temperaturkoeffizienten (NTC) und konfigurierbar für die Überwachung der Modultemperatur