Texas Instruments UCC5881-Q1 Gate-Treiber
Der Texas Instruments UCC5881-Q1 Gate-Treiber ist ein isolierter, konfigurierbarer Gate-Treiber mit einstellbarer Ansteuerungsstärke, der leistungsstarke SiC-MOSFETs und -IGBTs in EV/HEV-Applikationen ansteuern kann. Dieser Treiber integriert Diagnose- und Erkennungsfunktionen, um das Design von ASIL-konformen Systemen zu vereinfachen. Der UCC5881-Q1 enthält einen integrierten 10-Bit-Analog-Digital-Wandler (ADC), der die Überwachung von bis zu 2 Analogeingängen, VCC2, DESAT und der Gate-Treiber-Temperatur ermöglicht. Dieser Treiber unterstützt primärseitige und sekundärseitige aktive Kurzschlüsse (ASC). Das UCC5881-Q1 bietet Schutz vor Unter- und Überspannung bei interner und externer Versorgung. Dieser Treiber ist für Fahrzeuganwendungen AEC-Q100-qualifiziert. Der UCC5881-Q1 Treiber wird in Applikationen wie HEV-Traktionswechselrichtern und EV/HEV-Leistungsmodulen eingesetzt.
Merkmale
- AEC-Q100-qualifiziert:
- Gerätetemperaturklasse 1: -40 °C bis +125 °C Umgebungstemperatur bei Betrieb
- Gerät HBM ESD-Klassifizierungsstufe 2
- Gerät CDM ESD-Klassifizierungsstufe C2b
- Treiber mit zwei Ausgängen und variabler Ansteuerungsstärke in Echtzeit:
- ±15 A und ±5 A Antriebsstromausgänge
- Digitale Eingangskontaktstifte zur Einstellung der Antriebsstärke ohne SPI
- 3 Widerstandseinstellungen R1, R2, oder R1||R2
- Integrierte aktive Miller-Klemme von 4 A oder optionaler externer Ansteuerung für Miller-Klemmen-Transistor
- Unterstützung von Active Short Circuit (ASC) auf der Primär- und Sekundärseite
- Unter- und Überspannungsschutz bei interner und externer Versorgung
- Temperaturmessung des Treiberchips und Übertemperaturschutz
- Kurzschlussschutz
- 110 ns Reaktionszeit auf DESAT-Ereignis
- DESAT-Schutz – Auswahlmöglichkeiten bis zu 14 V
- Nebenwiderstand-basierter Kurzschluss- (SC) und Überstromschutz (OC)
- Konfigurierbare Schutzschwellenwerte und Ausblendzeiten
- Programmierbarer Soft-Turn-Off(STO)- und zweistufiger Soft-Turn-Off(2STO)-Strom
- Integrierter 10-Bit-ADC
- Kann die Temperatur des Leistungsschalters, die DC-Link-Spannung, die Temperatur des Treiberchips, die DESAT-Pin-Spannung und die VCC2-Spannung messen
- Programmierbare digitale Komparatoren
- Erweiterte VCE/VDS-Klemmschaltung
- Mit der funktionalen Sicherheit konform
- Für funktionale Sicherheitsapplikationen ausgelegt
- Dokumentation zur Unterstützung der Systemauslegung nach ISO 26.262 bis ASIL D verfügbar
- Integrierte Diagnostik
- Integrierter Selbsttest (BIST) für Schutzkomparatoren
- Messung der Gate-Schwellenspannung zur Überwachung des Zustands von Leistungsbauelementen
- Integrität des INP zum Transistor-Gate-Pfad
- Interne Uhrüberwachung
- Alarm- und Warnausgänge bei Störungen
- ISO-Kommunikationsdatenintegritätsprüfung
Applikationen
- Traktionswechselrichter für Elektrofahrzeuge (EV) und Hybrid-Elektrofahrzeuge (HEV)
- EV- und HEV-Leistungsmodule
Schematisches Diagramm
Weitere Ressourcen
Veröffentlichungsdatum: 2025-01-17
| Aktualisiert: 2025-05-06