Texas Instruments UCC5870QEVM-045 Gate-Treiber-Evaluierungsmodul

Das UCC5870QEVM-045 Gate-Treiber-Evaluierungsmodul (EVM) von Texas Instruments ist zur Evaluierung des isolierten 15-A-Einkanal-Gate-Treibers von TI mit fortschrittlichen Schutzfunktionen ausgelegt. Dieses Evaluierungsmodul ist für die Ansteuerung von SiC-MOSFETs und IGBTs mit hoher Leistung in EV/HEV-Applikationen vorgesehen. Dieses Dreiphasen-Evaluierungsmodul kann für die Debugging-Software für die serielle Peripherieschnittstelle (SPI) des Treibers verwendet werden. Darüber hinaus kann das Bauteil die fortschrittlichen Diagnose-, Schutz- und Überwachungsfunktionen des Treibers erkunden. Das UCC5870QEVM-045 von Texas Instruments ist zum Testen von sechs Kanälen der UCC5870-Q1 Gate-Treiber mit einer SPI-Kommunikation im Adressmodus von TI ausgelegt. Darüber hinaus ist die Option zur Konfiguration des Boards für die Verkettungsmodus-SPI-Kommunikation verfügbar. Das Board kann direkt mit dem C2000 LaunchPad LAUNCHXL-F28379D bestückt werden, bietet aber auch Anschlüsse für andere Controller-Typen.

Merkmale

15 A Spitzenwert geteilter Sink/Source-Treiberstrom für schnelle Ein- und Ausschaltzeiten
Die Ausgangsspannungen der Treiber sind standardmäßig +15 V/-8 V bei einer 12V-Eingangsversorgung
3.750 V_RMS einminütige Isolierung gemäß UL 1577 für UCC5870-Q1
3.000 V_RMS einminütige Isolierung für den Flyback-Transformator
Kriechstrecke von > 8 mm zwischen Primär- und Sekundärstrecke
Desat-Kurzschlussschutz und aktive Vce-Klemme
Aktive Miller-Klemme mit internem oder externem FET

Fehler-Feedback und Reset
ADC für Temperaturmessung und DC-Bus-Spannungsmessung
Primär- und Sekundär-ASC
Adressmodus oder Daisy-Chain-Modus, SPI-basierte Rekonfiguration, Verifizierung, Überwachung und Diagnose von Bauteilen
Kompatibel mit C2000 LaunchPad LAUNCHXL-F28379D
Streng geregelte, isolierte Ausgangsspannungen von 15 V und -7,7 V mit besserer Lastregelung als ±2 % von 1 % bis 100 % Last