Texas Instruments TPS7H6023EVM-CVAL Treiber-Evaluierungsmodul
Das Treiber-Evaluierungsmodul (EVM) TPS7H6023EVM-CVAL von Texas Instruments wurde entwickelt, um den TPS7H6023-SP zu testen und zu bewerten. Der TPS7H6023-SP ist ein strahlengeschützter 22 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber. Das Board akzeptiert einen Eingang von bis zu 14 V und ermöglicht es Designern, die Prüfung der Zuverlässigkeit des TPS7H6023-SP durch die Ansteuerung eines Galliumnitrid(GaN)-FETs. Standardmäßig ist das Evaluierungsmodul für den Betrieb mit dem PWM-Modus des TPS7H6023-SP von Texas Instruments, der einen Eingang eines Schaltsignals akzeptiert und intern ein komplementäres Signal erzeugt, eingerichtet.
Merkmale
- Wählbarer Eingangssperrenschutz im unabhängigen Eingangsmodus
- Geteilte Ausgänge für einstellbare Ein- und Ausschaltzeiten
- Typische Laufzeitverzögerung von 25 ns im unabhängigen Eingangsmodus
- 1,5 A Spitzenstrom im Quellmodus, 3 A Spitzenstrom im Senkenmodus
Applikationen
- Kommunikationsnutzlast
- Stromversorgung für FPGA-Kernspannungsschienen in Raumfahrtsatelliten
- Befehls- und Datenverarbeitung
- Elektrisches Energieversorgungssystem für Satelliten
Zugehörige EVMs
Texas Instruments TPS7H60x5EVM Evaluierungsmodule
Entwickelt, um die TPS7H60x5-SEP Gate-Treiber schnell und einfach zu demonstrieren.
Texas Instruments TPS7H6013EVM-CVAL GATE Driver Evaluierungsmodul
Bewertet das TPS7H6013-SP Bauteil, einen strahlungsgehärteten QMLV 60 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber.
Texas Instruments TPS7H6003EVM-CVAL Evaluierungsmodul
Akzeptiert einen Eingang bis zu 150 V, um die Zuverlässigkeit des TPS7H6003-SP durch den Antrieb des EPC2307 zu testen.
Veröffentlichungsdatum: 2024-06-13
| Aktualisiert: 2025-02-27