Texas Instruments DLP660TEEVM DMD-Evaluierungsmodul (EVM)
Das DMD-Evaluierungsmodul (EVM) der Baureihe DLP660TEEVM von Texas Instruments kann die Prototyping-Zeit eines DLP 0,66-Zoll-4K-UHD-Systems beschleunigen, wenn es mit dem DLPC4420AEVMkombiniert wird. Das Texas Instruments DLP660TEEVM bietet eine Lösung für die Evaluierung des 0,66-Zoll-4K-UHD-Digital-Mikrospiegel-Bauelements (Digital-Micromirror-Device, DMD), das für die Kopplung mit dem DLPC4420AEVM entwickelt wurde und SPLASH, Testmuster und Videos von der HDMI-Quelle auf dem DMD anzeigen kann.
Merkmale
- 4K UHD (3820 x 2160) Bildschirmauflösung
- 5,4 µm Mikrospiegelabstand
- ±17° Mikrospiegelneigung (relativ zum flachen Zustand)
- Beleuchtung von unten
- 2 x LVDS Eingangsdatenbus
Board-Layout
Verwandtes Development Tool
Texas Instruments DLPC4420AEVM Controller-Evaluierungsmodul (EVM)
In Kombination mit anderen EVMs kann es die Prototyping-Zeit des DLP 4K-UHD-Systems beschleunigen.
Veröffentlichungsdatum: 2024-02-19
| Aktualisiert: 2024-02-29