NXP Semiconductors RDI7018C3T1 Referenzdesign
Das Referenzdesign RDI7018C3T1 von NXP Semiconductors ist ein Referenzdesign für eine Batteriezellenüberwachungseinheit (CMU) mit einer ETPL-Kommunikationsschnittstelle (Electrical Transport Protocol Link) zu einer Batteriemanagementeinheit (BMU). Dieses Referenzdesign ist ideal für die schnelle Prototypenentwicklung von Software und Hardware für Hochspannungs-Batterie-Energiespeichersysteme (BESS). Das Board enthält drei BMI7018 analoge Frontends (AFEs) in einer Daisy-Chain.
Mit dem RDI7018C3T1 von NXP Semiconductors kann ein Batteriemodul mit bis zu 54 Zellen überwacht werden. Es gibt insgesamt 27 GPIO-/Analog-Messeingänge für Temperatur- oder andere Messungen. Eine typische Applikation ist ein Speicher Energiespeichersystem (ESS).
Merkmale
- Spannungsmessung
- Drei BMI7018-Batteriezellen-Controller (BCCs) für bis zu 54 Zellen, erweiterbar durch Hinzufügen weiterer CMUs zur Daisy-Chain.
- Lebenslang garantierte hochgenaue Zellenspannungsmesskanäle mit Mittelwertbildung und fortschrittlicher Filterung
- Temperaturmessung
- 3 x 9 analoge Eingänge (einschließlich Temperatursensoren) oder GPIOs mit fortschrittlicher Filterung
- Zellenausgleichfunktion
- Zellausgleich mit integrierter Temperaturregler-Funktion mit bis zu 300 mA (unter Verwendung des Standard-Setups)
- Druckmessung
- Integrierter Drucksensor zur Erkennung thermischer Instabilität
- Kommunikations-
- Isolierte TPL-Kommunikation zwischen CMU und BMU
Board-Layout
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Veröffentlichungsdatum: 2025-10-14
| Aktualisiert: 2025-10-22