Broadcom AFBR-S4N44P044M 2×2 NUV-MT Photomultiplier-Array
Das Broadcom AFBR-S4N44P044M 2 × 2 NUV-MT Silizium-Photomultiplier-Array ist ideal für hochempfindliche Präzisionsmessungen von Einzelphotonen geeignet. Das SiPM nutzt die NUV-MT-Technologie, die im Vergleich zur NUV-HD-Technologie eine verbesserte Fotoerkennungs-Wirkungsgrad (PDE) mit reduzierter Dunkelzählrate und Nebensignaleffekt aufweist. Der AFBR-S4N44P044M verfügt über einen Raster von 4 mm in beiden Richtungen. Mit mehreren AFBR-S4N44P044M-Arrays können größere Flächen mit einem Raster von 8,3 mm ohne Kantenverluste abgedeckt werden.
Das Broadcom AFBR-S4N44P044M-Array ist mit einer klaren Epoxidformmasse eingekapselt, die für hervorragende mechanische Stabilität und Robustheit sorgt. Das Epoxidharz ist bis hinunter zu UV-Wellenlängen hochtransparent, was zu einer breiten Reaktion im sichtbaren Lichtspektrum mit hoher Empfindlichkeit im blauen und nahen UV-Bereich führt.
Das Bauelement eignet sich gut zur Erkennung schwacher gepulster Lichtquellen, insbesondere von Tscherenkow- oder Szintillationslicht aus den gängigsten organischen (Kunststoff) und anorganischen Szintillatormaterialien (z. B. LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF oder LaBr3).
Merkmale
- 2×2 SiPM-Array
- Array-Größe von 8,26 mm × 8,26 mm
- Hohe PDE (63 % bei 420 nm)
- Ausgezeichnete SPTR und CRT
- Ausgezeichnete Gleichmäßigkeit der Durchschlagsspannung
- Ausgezeichnete Gleichmäßigkeit des Gains
- 4-seitig kachelbar, mit hohem Füllfaktor
- 40 μm Zellenraster
- Hochtransparente Epoxid-Schutzschicht
- Betriebstemperaturbereich von -20 °C bis +50 °C
- RoHS-, CFM- und REACH-konform
Applikationen
- Erkennung von Röntgen- und Gammastrahlen
- Nuklearmedizin
- Positronen-Emissions-Tomographie
- Schutz und Sicherheit
- Physikalische Experimente
- Tscherenkow-Erkennung
Blockdiagramm
Reflow-Löten Diagramm
Veröffentlichungsdatum: 2023-05-10
| Aktualisiert: 2023-05-12