Analog Devices Inc. EVAL-ADXRS453Z-M Trägheitssensor-Evaluierungssystem
Das Analog Devices Inc. EVAL-ADXRS453Z-M Trägheitssensor-Evaluierungssystem ist eine benutzerfreundliche, modulare Evaluierungsplattform, die für die Bench- oder Desktop-Charakterisierung des ADXRS453 Digitalausgangs-Gyroskops ausgelegt ist.Das System besteht aus dem Trägheitssensor-Evaluierungsboard (ISEB) und einem Satellitenboard für das Trägheitssensor-Bauteil. Das ISEB lässt sich über ein USB-Kabel direkt zu einem PC mit einer USB-Verbindung anschließen, die sowohl Leistung als auch Kommunikation zum Board liefert. Das ISEB ist über ein Flachbandkabel mit dem Satellitenboard verbunden. Über dieses Kabel kann der Satellit für Tests leicht manipuliert oder für Temperatur- oder Feuchtigkeitstests getrennt in eine Klimakammer platziert werden.
Das Trägheitssensor-Universal-Evaluierungsboard kann mit zahlreichen Sensor-Satellitenboards von Analog Devices Inc., einschließlich analoge und digitale Beschleunigungsmesser sowie Gyroskope, verwendet werden. Die verschiedenen Produkte werden mithilfe von separaten GUIs evaluiert, die für Leistungs- und Charakterisierungsmessungen, die den zu evaluierenden Trägheitssensor betreffen, ausgelegt sind.
Das ADXRS453 Satellitenboard (EVAL-ADXRS453Z-S) ist für Nutzer, die bereits über das ISEB verfügen, separat verfügbar.
Merkmale
- Flexible Trägheitssensor-Evaluierungsplattform
- Das einzelne Hauptboard wird mit austauschbaren Satellitenboards betrieben
- Trennt DUT vom Controller für eine präzise Umweltprüfung
- SPI-Schnittstelle mit einer Datenrate von 500 Hz
- Kontinuierlicher Strom zu Datei-Datenaufzeichnung
- Standard-USB-Kabel für Leistung und Kommunikation
- PC-basierte grafische Benutzeroberfläche (GUI)
- Schnelle, einfache Installation
Lieferumfang Kit
- Trägheitssensor-Evaluierungsboard (ISEB)
- ADXRS453Z-S Satellitenboard
- USB-A-zu-Mini-USB-Kabel
- 20-Pin-Flachbandkabel von 18 Zoll (45,7 cm)
Einsetzbare Produkte
Analog Devices Inc. ADXRS453 Gyroskop mit digitalem Ausgang
Hochleistungs-Gyroskop, das Drehraten von bis zu ±300 °/s messen kann.
Verwandte Produkte
Analog Devices Inc. EVAL-ADXRS453Z und EVAL-ADXRS453Z-V Evaluierungsboards
Einfache Breakout-Boards zur Demonstration des ADXRS453 entweder im SOIC- oder LCC-Gehäuse.