Analog Devices EVAL-HMC7044 Testplatine

Analog Devices EVAL-HMC7044 Testplatine

Die Analog Devices EVAL-HMC7044 Testplatine ist als einfache, benutzerfreundliche Plattform ausgelegt, um Entwickler bei der Auswertung der Funktionen des HMC7044 Jitter-Dämpfers zu unterstützen. Die Testplatine verfügt über integrierte LDO-Spannungsregler, PLL-Schleifenfilter, SMA-Steckverbinder und Status-LEDs für Diagnosesignale. Zusätzlich verfügt diese Testplatine zur Bereitstellung einer vollständigen Lösung über einen spannungsgesteuerten 122.88MHZ Oszillator (VCXO). Alle Eingänge und Ausgänge sind als differentiell auf der Testplatine konfiguriert.

Merkmale
  • Einfache Leistungsverbindung mit USB-Anschluss und integrierten LDO-Spannungsreglern
  • LDOs können zum Zweck der Leistungsmessung übergangen werden
  • AC-gekoppelte differentielle SMA-Steckverbinder
  • SMA-Steckverbinder für
    • 2 Referenzeingänge
    • 6 Taktausgänge
    • 1 VCXO Ausgang
  • Microsoft Windows®-basierte Auswertungs-Software mit einfacher grafischer Benutzeroberfläche

  • On-Board PLL Schleifenfilter
  • Einfacher Zugang auf digitale Eingangs-/Ausgangs- und Diagnosesignale über eine Eingangs-/Ausgangsstiftleiste (4 GPIOs)
  • Status-LEDs für Diagnosesignale der USB-Computerschnittstelle

Test-Kit-Lieferumfang
  • EV3HMC7044LP10B Testplatine
  • USB-Schnittstellenkarte und USB-Kabel
  • EK1HMC7044LP10B Handbuch
eNews
  • Analog Devices Inc.
Veröffentlichungsdatum: 2015-11-23 | Aktualisiert: 2022-03-11