Analog Devices EVAL-ADUM3151Z Testplatine

Die Analog Devices EVAL-ADUM3151Z Testplatine hilft Designern bei der Auswertung der 7-Kanal-Datenrichtungsvarianten der SPIsolator®-Isolatoren (ADuM3151ARSZ, ADuM3151BRSZ, ADuM3152ARSZ, ADuM3152BRSZ, ADuM3153ARSZ, ADuM3153BRSZ, ADuM4151ARIZ, ADuM4151BRIZ, ADuM4152ARIZ, ADuM4152BRIZ, ADuM4153ARIZ , ADuM4153BRIZ) und ist für den Einsatz in SPI-Anwendungen optimiert. Sie umfassen drei Kanäle mit geringer Geschwindigkeit für Hilfsfunktionen, die bezüglich des Timings nicht kritisch sind. Entwickelt unter Verwendung der besten Designpraktiken für Leiterplatten (PCB) für 4-schichtige Platinen, einschließlich einer vollständigen Leistungs- und Erdungsebene auf jeder Seite der Isolationsbarriere. Die EVAL-ADUM3151Z bietet ein JEDEC-Standard 20-Pin-SSOP Pad-Layout, Unterstützung für Signalstörung, Loop Back, referenzierte Ladungen für VDDX oder GNDX und optimale Bypass-Kapazität. Signalquellen können auf die Platine verdrahtet sowie durch Rand-montierte SMA-Stecker (separat erhältlich) oder Anschlussklemmen für Stromanschlüsse mit der Platine verbunden werden. Die Platine umfasst 200 mil Positionen für Stiftleisten für Kompatibilität mit aktiven Sonden von Tektronix.
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