Schede di valutazione NAFE33352
Le schede di valutazione NAFE33352 di NXP Semiconductors sono progettate per la prova del NAFE33352, un front-end analogico universale di ingresso e uscita (AIO) analogico (AFE) configurabile tramite software che soddisfa i requisiti di misurazione e controllo di alta precisione delle applicazioni di livello industriale. L'architettura altamente integrata e innovativa del NAFE33352 di NXP Semiconductors comprende un convertitore digitale/analogico (DAC) di precisione a 14/16/18 bit, un convertitore analogico/digitale (ADC) a 16/24 bit, un riferimento di tensione a bassa deriva, buffer a bassa deriva di offset, e amplificatori ad alta tensione e alta precisione con circuito di protezione degli ingressi fino a 70 V per scenari di EMC ed errori di cablaggio, consentendo ingressi e uscite analogici universali realmente configurabili via software.
