Analog Devices EVAL-ADUM3154Z Testplatine
Die EVAL-ADUM3154Z Testplatine von Analog Devices hilft Entwicklern bei der Auswertung der ADuM3154ARSZ, ADuM3154BRSZ, ADuM4154ARIZ und ADuM4154BRIZ 4-Kanal SPIsolator-Isolatoren, die zur Verwendung in SPI-Anwendungen optimiert sind. Sie umfassen zwei Adresspins mit geringer Geschwindigkeit, um die Slaveauswahl zu einem von vier Zielen umzuleiten. Die EVAL-ADUM3154Z bietet ein JEDEC-Standard 20-Pin-SSOP Pad-Layout, Unterstützung für Signalstörung, Loop Back, referenzierte Ladungen für VDDX oder GNDX und optimale Bypass-Kapazität. Entwickler können Signalquellen auf die Platine verdrahten sowie durch Rand-montierte SMA-Steckverbinder (separat erhältlich) oder Anschlussklemmen für Stromanschlüsse mit der Platine verbinden. Die Platine umfasst 200 mil Positionen für Stiftleisten für Kompatibilität mit aktiven Sonden von Tektronix.
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