SN74ABT8245 Serie Spezialfunktions-Logik

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Texas Instruments Spezialfunktions-Logik Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
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SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Spezialfunktions-Logik Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
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Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Spezialfunktions-Logik Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
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Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 6 Wochen
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Mult.: 2 000
Rolle: 2 000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel