Schnittstelle - spezialisiert

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Auswählen Bild Teile-Nr. Herst. Beschreibung Datenblatt Verfügbarkeit Preis (CHF) Ergebnisse in der Tabelle nach dem Einheitspreis bei Ihrer Menge filtern. Menge RoHS ECAD Model Typ Unterstütztes Protokoll Versorgungsspannung - Max. Versorgungsspannung - Min. Betriebsversorgungsstrom Minimale Betriebstemperatur Maximale Betriebstemperatur Montageart Verpackung/Gehäuse
Texas Instruments Schnittstelle - spezialisiert Low Vltg IEEE 1149.1 Sys Test Access A 9 A 926-SCANSTA101SMXNPB Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 416
Mult.: 416

Low Voltage Boundary Scan 3.3 V 3.3 V 250 uA - 40 C + 85 C SMD/SMT nFBGA-49
Texas Instruments Schnittstelle - spezialisiert Low voltage IEEE 114 9.1 system test acc A 926-ANSTA101SM/NOPB Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 2 000
Mult.: 2 000
Rolle: 2 000

Low Voltage Boundary Scan - 40 C + 85 C SMD/SMT nFBGA-49