Analog Devices ADC-Hochgeschwindigkeits-Testplatinen

Die Hochgeschwindigkeits-ADC-Testplatinen von Analog Devices werten die Funktionen und die Leistung der ausgewählten Produkte schnell aus. Die Datenerfassungs-Testkits ermöglichen Konstrukteuren, Blöcke digitaler Daten aus den ADC-Hochgeschwindigkeits-Testplatinen von Analog Devices zu entnehmen. Analog Devices bietet zwei Arten von Datenerfassungskits für seine Hochleistungs-ADC-Produktlinie: FPGA-basiert und FIFO-basiert.
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3erwartet ab 07.05.2026
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