Analog Devices Inc. ADAQ23875 μModule®-Datenerfassungslösung
Die ADAQ23875 μModule® - Datenerfassungslösung von Analog Devices Inc. ist ein System-in-Package (SIP), das mehrere gängige Signalverarbeitungs- und Signalkonditionierungsblöcke in einem einzigen Bauteil integriert. Diese Blöcke umfassen einen rauscharmen, vollständig differenziellen Analog-Digital-Wandler(ADC)-Treiber (FDA), einen stabilen Referenzbuffer und einen 16-Bit-Hochgeschwindigkeits-ADC mit 15 MS/s und sukzessivem Approximationsregister (SAR). Mit der iPassives® -Technologie von Analog Devices, Inc. umfasst der ADAQ23875außerdem entscheidende passive Bauelemente mit hervorragenden Anpassungs- und Drift-Eigenschaften, um temperaturabhängige Fehlerquellen zu minimieren und eine optimierte Leistung zu bieten. Die schnelle Einschwingzeit der ADC-Treiberstufe mit vollständig differenziellem oder einendigem bis differenziellem Eingang und ohne Latenz des SAR-ADCs bietet eine einzigartige Lösung für Multiplex-Signalketten-Architekturen und Regelschleifenapplikationen mit hoher Kanalzahl.
Das ADAQ2387 μModule von Analog Devices Inc. wird in einem CSP_BGA-Gehäuse von 9,0 mm x 9 mm mit kleinem Footprint angeboten und ermöglicht Instrumente mit kleinerer Baugröße, ohne dass dabei die Leistung beeinträchtigt wird. Ein Einzelversorgungsbetrieb von 5,0 V ist möglich, während gleichzeitig eine optimale Leistung vom Bauteil erzielt wird. Der ADAQ23875 verfügt über eine serielle LVDS-Digitalschnittstelle (Low Voltage Differential Signaling, LVDS) mit einspurigen oder zweispurigen Ausgangsmodi, die es dem Benutzer ermöglicht, die Datenrate der Schnittstelle für die jeweilige Applikation zu optimieren. Der spezifizierte Betriebstemperaturbereich des μModule liegt bei -40 °C bis +85 °C.
Merkmale
- Integrierter vollständig differenzieller ADC-Treiber mit Signalskalierung
- Großer Gleichtakt-Eingangsspannungsbereich
- Hohe Gleichtaktunterdrückung
- Einendige zu differenzielle Wandlung
- Eingangsbereich von ±2,048 V mit 4,096 V REFBUF
- Kritische passive Bauelemente
- Präzisions-angepasstes Widerstandsarray für FDA von 0,005 %
- Geringer Stromverbrauch, dynamische Leistungsskalierung, Abschaltmodus
- Durchsatz ohne Leitungsverzögerung von 15 MS/s
- ±0,4 LSB typische, ±1 LSB maximale integrale Nichtlinearität
- 89 dB (typisch) Signal-Rausch und Verzerrung (SINAD) bei 1 kHz
- -115 dB bei 1 kHz, -106 dB bei 400 kHz Klirrfaktor (THD)
- Typischer Gain-Fehler von 0,005 % FS
- Gain-Fehlerdrift von ±1 ppm/°C (max.)
- On-Board-Referenzbuffer mit VCMO-Generierung
- Serielle LVDS-Schnittstelle
- Großer Betriebstemperaturbereich: -40 °C bis +85 °C
- 100-Ball-BGA-Gehäuse von 9,0 mm x 9,0 mm mit einem Rastermaß von 0,8 mm
- RoHS-konform
Applikationen
- ATE (Automatic Test Equipment)
- Datenerfassung
- Hardware in der Schleife (HiL)
- Leistungsanalysatoren
- Zerstörungsfreie Prüfung (akustische Emissionen)
- Massenspektrometer
- Wanderfeld-Fehlerstelle
- Medizinische Bildgebung und Instrumente
- Ultraschall-Durchflussmesser
Development Tools
Analog Devices Inc. EVAL-ADAQ23875FMCZ Evaluierungsboard
Demonstrations- und Entwicklungsplattform für die ADAQ23875 μModule®-Datenerfassungslösung.
Blockdiagramm
Gehäuseabmessungen
Weitere Ressourcen
Einfache Berechnung des Abtast-Taktjitters für isolierte Präzisions-Hochgeschwindigkeits-DAQs
Der Jitter im Signal (oder Takt), der den S&H-Schalter in einem ADC steuert, beeinflusst die SRV-Leistungsfähigkeit von Präzisions-Hochgeschwindigkeits-DAQ-Signalketten. Das Verstehen der Fehlerquellen, die zum Gesamt-Jitter beitragen, ist bei der Auswahl von Komponenten wichtig.