Analog Devices Inc. Analog Devices EVAL-ADuM3150Z Testplatine
Die Analog Devices EVAL-ADuM3150Z Testplatine hilft bei der Auswertung von ADuM3150ARSZ, ADuM3150BRSZ, ADuM4150ARIZ und ADuM4150BRIZ 6-Kanal SPIsolator®-Isolatoren, die für die Verwendung in SPI-Anwendungen optimiert sind. Sie umfassen zwei Kanäle mit geringer Geschwindigkeit und einem Taktverzögerungskanal für die Umsetzung von 40MHz SPI-Datenübertragungen. Entwickelt unter Verwendung der besten Designpraktiken für Leiterplatten (PCB) für 4-schichtige Platinen, bietet die EVAL-ADuM3150Z eine vollständige Leistungs- und Erdungsebene auf jeder Seite der Isolationsbarriere. Die Funktionen umfassen JEDEC-Standard 20-Pin-SSOP Pad-Layout, Unterstützung für Signalstörung, Loop Back, referenzierte Ladungen für VDDX oder GNDX und optimale Bypass-Kapazität. Entwickler können Signalquellen auf die Platine verdrahten oder durch Rand-montierte SMA-Stecker (separat erhältlich) oder Anschlussklemmen für Stromanschlüsse mit der Platine verbinden.Designed using best printed circuit board (PCB) design practices for 4-layer boards, EVAL-ADuM3150Z includes a full power and ground plane on each side of the isolation barrier. Features include a JEDEC standard 20-lead SSOP pad layout, support for signal distribution, loopback, and loads referenced to VDDx or GNDx, as well as optimal bypass capacitance. Designers can wire signal sources onto the board or through edge-mounted SMA connectors (sold separately) or terminal blocks for power connections. The board includes 200 mil header positions for compatibility with Tektronix active probes.
Merkmale
- Full power and ground plane on each side of the isolation barrier
- JEDEC standard 20-lead SSOP pad layout
- Support for signal distribution, loopback
- Loads referenced to VDDx or GNDx
- Optimal bypass capacitance
- 200 mil header positions for compatibility with Tektronix active probes
Veröffentlichungsdatum: 2014-09-11
| Aktualisiert: 2022-03-11
